DataRay 狹縫掃描式光束質量分析儀

產品型號：
更新時間：2026-02-09
產品介紹：DataRay 狹縫掃描式光束質量分析儀所使用的硅基探測器使得它比較好的適用于 190nm 至 1150nm 范圍內的檢測。 Beam'R2 配備 2.5 微米狹縫和更大的刀刃狹縫，能夠測量直徑小至 2µm 的光束。狹縫掃描式光束質量分析儀的分辨率比相機式系統高得多，而且兼容連續激光和脈沖激光。
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品牌	其他品牌	應用領域	環保,化工,電子/電池,綜合

l 設計工作波長190至 1150nm

l 可測量光束直徑為 2µm 至 4mm

l 提供功能*且易于使用的控制軟件

DataRay 狹縫掃描式光束質量分析儀所使用的硅基探測器使得它比較好的適用于 190nm 至 1150nm 范圍內的檢測。 Beam'R2 配備 2.5 微米狹縫和更大的刀刃狹縫，能夠測量直徑小至 2µm 的光束。狹縫掃描式光束質量分析儀的分辨率比相機式系統高得多，而且兼容連續激光和脈沖激光。 DataRay 狹縫掃描式光束質量分析儀是光學組裝和儀器對準、對焦和對準誤差的實時診斷、實現多個組件實時共聚焦控制的理想選擇。這些分析儀由 USB 2.0 供電，包括一條 3 米長的 USB 2.0 電纜。

標題	產品編碼
BeamR2-Si Scanning Slit Beam Profiler	24-215

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